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X射線熒光光譜分析通過將可選項(xiàng)的精度管理型軟件進(jìn)一步升級,并使之成為標(biāo)準(zhǔn)配備，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格化。與以往儀器相比，環(huán)境管制物質(zhì)的測量時(shí)間大幅縮短，材料辨識功能、分析線切換功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更簡單。X射線熒光光譜分析是一種常用的分析儀器，主要由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成?；驹砭褪牵篨射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量...

Insitec在線粒度分析儀粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆?？倲?shù)的比例。當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時(shí)，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時(shí)，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達(dá)粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數(shù)，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑:中位徑記作x50,表示...

X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。X射線熒光光譜儀分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；X射線熒...

zeta電位儀的測量方法：電泳法對許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會在電場產(chǎn)生流動，陽性顆粒朝負(fù)極流動，陰性顆粒朝正極流動。然而，顆粒并不是獨(dú)自流動，他們周圍會攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器（Rank微電泳儀）通過充滿誤差，慢速度的手...

馬爾文流變儀的分類介紹：旋轉(zhuǎn)流變儀A:控制應(yīng)力型:使用多，如德國哈克(Haake)RS系列、美國TA的AR系列、英國Malven、奧地利Anton-Paar的MCR系列，都是這一類型的流變儀。前三家的產(chǎn)品馬達(dá)采用托杯馬達(dá)，托杯馬達(dá)屬于異步交流馬達(dá)，慣量小，特別適合于低粘度的樣品測試;Anton-Paar的MCR流變儀和美國TA公司的ARES采用永磁體直流馬達(dá)，但從原理上響應(yīng)速度快，是應(yīng)力型流變儀的一種發(fā)展方向。這一類型的流變儀，采用馬達(dá)帶動夾具給樣品施加應(yīng)力，同時(shí)用光學(xué)解碼器...